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冷熱沖擊試驗箱滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
冷熱沖擊試驗箱主要用途 :用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具。
冷熱沖擊試驗箱應(yīng)用領(lǐng)域:用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT、等物理性變化的測試之用
冷熱沖擊試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗方法 Ab
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb
GB2423.22-87溫度變化試驗方法
GJB150.5-86溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗
GJB367.2-87溫度沖擊試驗(每立方米負載不大于35kg/m3鋼的熱容量,濕熱試驗時無有源濕、熱負載)
冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品特點
1、試驗系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計先進合理,GB/T2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001
2、該試驗箱主要功能元器件均采用進口配置(含金量高)、技術(shù)原理可靠、噪音與節(jié)能得到控制——其性能可替代國外同類產(chǎn)品。
3、整機制冷系統(tǒng)采用PID演算控制,不需加配發(fā)熱管消耗額外功率,省電高達35%
4、設(shè)備具有良好的操作性、維護性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的保護性能、不污染環(huán)境及危害人身健康。
冷熱沖擊試驗箱主要技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品名稱 |
高低溫沖擊試驗箱 |
產(chǎn)品型號 |
DECF-408 -65(風(fēng)冷式) |
試樣限制 |
本試驗設(shè)備禁止: 易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 生物試樣的試驗或儲存 強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存 放射性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 劇毒物質(zhì)試樣的試驗或儲存 試驗或儲存過程中可能產(chǎn)生易燃、爆炸、揮發(fā)、劇毒、腐蝕及放射性物質(zhì)的試樣的試驗或儲存 |
容積、尺寸和重量 |
|
內(nèi)容積 |
(408L ) |
內(nèi)箱尺寸 |
1000*650*750 |
外形尺寸 |
2000*2300*2600 |
重 量 |
(9500 )KG |
性能 |
|
測試環(huán)境條件 |
環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下 |
測試方法 |
GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001 |
高低溫區(qū)溫度范圍 |
1.高溫區(qū)部分:60℃~205℃ 2.低溫區(qū)部分:-10℃~-80℃ 3.測試區(qū)部分:190℃~-65℃ |
溫度測試范圍 |
1.高溫:60℃~205℃ 2.低溫:-10℃~-65℃ |
高低溫轉(zhuǎn)換時間 |
≤10S |
高低溫恢復(fù)時間 |
3~5min(非線性空載下) |
控制 精度 |
溫度:±0.2℃ (指控制器設(shè)定值和控制器實測值之差) |
溫度波動度 |
≤0.5℃(溫度波動度為中心點測高溫度和低溫度之差的一半) |
溫度 誤差 |
≤±1℃(控制器顯示值的平均溫度減去中心點實測的平均溫度) |
溫度均勻度 |
≤±2℃為每次測試中實測高溫度和低溫度之差平均值) |
預(yù)熱區(qū)升溫速度 |
≥3℃/min(非線性) |
預(yù)冷區(qū)降溫速度 |
≥2℃/min(非線性) |
工作噪音
|
A聲級≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃,回聲少的隔音室內(nèi)測得;采用A計權(quán),測試8個點的平均值;各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米) |